业纳的 WAVELINE 测量系统可以用于粗糙度或轮廓测量。我们还提供将这两个功能相结合的系统。可以使用 3D 分析软件扩展 Waveline T8000、surfscan 和 nanoscan 业纳测量系统，以便进行地形测量。Waveline MAP 软件让您可以用图形的形式呈现工件的表面纹理，以便进行评估。
HOMMEL MAP 采用直观设计，且易于操作。例如，可在校准、滤波和拆模方面进行预处理。一旦评估步骤发生变化，会执行自动重新计算。系统提供了广泛的测量和科学滤波选项。
3D 分析软件提供三种版本：基本、专家和高级。专家和高级版符合 3D 参数的 ISO/TS 25178 标准。
除了软件外，地形测量还需要 Y 定位台。这有助于进行必要的工件移动。这些定位台可以容纳重量达 30千克的组件，并以约 5微米的导向精度工作。
优点
- 灵活：必要情况下可在测量站用于测量粗糙度
- 简单：直观，软件易于使用
- 快速：在评估步骤发生变化后自动重新计算
- 模块化：以彼此为基础的三个版本
应用
- 汽车工业：工件表面上的 3D 参数测量
- 研发：旨在优化表面功能的摩檫学研究
技术详情
HOMMEL MAP 基本版
- 文档管理
- 3D 对象的交互式研究
- 符合 DIN EN ISO 4287 的 2D 参数
- 距离测量，阶梯高度评估
基本版之外的其他功能：
- 评估轮廓系列
- Rk 参数，图案参数
- 汽车应用的 2D 参数
- 3D 参数
- 多个轮廓的连接
- FFT 分析、频谱和自相关
- 3D 对象的形态滤波
- 两个表面之间的差异
HOMMEL MAP 高级版
专家版之外的其他功能：
- 广泛的表面系列研究
- 二进制表面（粒度）研究
- 多层表面
3D 参数
符合 EN ISO 25178 的 3D 参数
国际标准 EN ISO 25178 指定了用于评估三维表面的参数和测量方法。这些规格扩展了可用于描述表面的选项范围，例如支持包括结构和功能之类的特性。
振幅参数
垂直振幅参数使用单个值来指定表面的垂直结构，并且基于 2D 轮廓截面评估。这些参数从线性的 2D 评估转向区域的 3D 评估。但是，无法使用这些参数对表面的功能行为进行可靠的评估。
Sa – 区域的算术平均粗糙度
Sk – 区域的核心粗糙度深度
Sz – 区域的平均峰谷高度
Sq – 区域的二次算术平均偏差
空间参数
空间参数指定表面的结构模式。ACF 自相关函数用于此目的。
Sal – 自相关长度
Str – 纹理纵横比
混合参数
混合参数将垂直和空间参数相结合以便确定梯度。
Sdq – 平均二次表面梯度
Sdr – 实际表面与测量表面的比率
面向功能的参数
垂直、空间和混合参数概括地指定表面。为了确定表面的功能特性，使用了面向功能的函数，位于核心的参数是区域物料配比曲线（对应于 2D 测量中的物料配比曲线）。
Smr – 区域物料配比曲线
Sk – 核心粗糙度（指定核心区域表面的负载能力）
Spk – 减少的峰高
Svk – 减少的谷深
Vm – 物料配比
Vv – 单位面积的干净体积
结构参数
引入结构参数是为了指定各个表面结构。这些参数基于地形技术（处理地形结构的地球科学），以地形的形式查看表面，观察水的流动。
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陈祥春 Hyman Chen
Metrology
+49 7721 6813-288