用于测量轮廓和粗糙度的测量仪

Waveline W5 移动式测量仪的粗糙度测量可靠且高度精密，令人印象深刻。系统可以精确定位在工件上，而且不会滑动。它的重量很轻，采用紧凑设计，这意味可将其轻松用于移动应用场合。该测量仪配备电池组，这意味着即使频繁使用也不会让您失望：可为超过 800 次测量持续提供电力。

可以轻松快捷地更换粗糙度探头（测量探头），这意味着 W5 可以用于执行无数不同的测量任务。该测量仪采用直观的触控式滚轮和彩色显示屏，使用起来非常容易。

此外，还可以选择使用 Waveline P5 打印机扩展该测量系统。这两个组件可以通过最新的蓝牙 (Bluetooth®) 技术轻松相连，让您可以在现场打印出测量结果，而无需任何额外的连接电缆。

优点

• 高测量质量：坚固耐用、 已校准的粗糙度探头
• 紧凑且重量轻：采用紧凑设计且重量只有 270 克，因此非常便于携带
• 持久耐用且采用无线方式：只需充满电就可以最多进行 800 次测量；可通过蓝牙 (Bluetooth®) 技术打印出测量结果
• 易用：直观的图形用户界面和触控式滚轮
• 清晰：宽大的彩色显示屏，可轻松读取公差评价结果
• 存储器容量大：5 个测量程序，100 个轮廓或 10,000 次测量

Waveline W10 测量仪非常适合用于进行移动式粗糙度测量，让您可以在生产过程本身中监测工件的表面质量。这款实用的测量系统具有广泛的功能。它在横向探测期间以及架空位置和垂直位置中提供可靠且精密的测量。集成的粗糙度标准支持快速测试测量仪，确保始终获得非常高的精密度。

W10 具有集成的热敏式打印机，这意味着可以立即记录测量结果。可以立即打印出公差评估、轮廓、Abbott 曲线和统计数据。该测量仪提供了七个不同的程序，以及用于测试测量仪的选项。所有功能均可通过现代且易于使用的彩色触摸屏进行操作。无需进行长时间的培训，因此可节省您的时间和资金。

此外，还可以选择使用 EVOVIS 移动评估软件扩展该测量系统。这款基于 PC 的软件是专门为移动式测量仪开发的，极大地扩展了粗糙度测量功能。它以在线和离线模式运行，支持您选择测量条件。您还可以自动保存打印表格。

优点

• 高精度：精密测量所有常见的粗糙度参数
• 符合标准：满足国际标准的要求
• 多功能：支持进行横向探测以及架空位置和垂直位置的测量
• 实用：以无线的方式进行测量；LV17 扫描单元集成充电座
• 易用：直观、现代的触摸屏
• 清晰：具有公差评估和表面轮廓的结果视图

W800 measuring systems have been developed for roughness and contour measuring tasks associated with typically manual or semi-automatic measuring processes. The systems are easy to operate and offer a great variety of analyses thanks to the performant measuring and evaluation software Evovis. The result is the highest standard of measuring accuracy in the shortest time.

The quick-change adapter enables probe systems to be changed over without having to use any tools. Probe arms and probe system are equipped with magnetic coupling making the exchange of probe arms easy and fast. This means you can take a flexible approach towards all of your measuring requirements.

The system automatically detects the intelligent contour probe arms with RFID identification and adjusts the optimal measurement conditions, thus practically eliminating operating errors and incorrect measurements.

System features

• Universal, easy-to-use measuring system
• Modern, high-resolution probe systems
• High measurement quality thanks to stable mechanics
• Sophisticated probe arm technology
• Unique traverse unit concept for optimum access to measuring positions
• Probe arms with magnetic coupling for fast and easy probe arm change over
• All contour probe arms equipped with an RFID chip for simplified calibration and automatic configuration
• Quick-change adapter QCA enables quick probe system changeover with minimum retooling time and automatic configuration feature
• Horizontal motion of the probe system occurs via the traverse unit enclosure, meaning the probe arm is always in front of the traverse unit
• Control panel for easy, direct operation of the most important measuring and control functions as well as emergency stop function with restart at interrupted axis position

The Waveline W900 series was developed for measuring tasks in high-performance areas, e.g. in the environment of automated process chains. The systems have two interfaces for coupling the touch probes and optionally additional axes for automating measuring sequences. The arrangement of the touch probes and the innovative traverse concept ensure optimum access to the measuring points.

W900 measuring systems are used especially in automated measuring sequences for particularly fast and precise results. With their measuring axes, they guarantee short measuring cycles for complex measuring tasks and thus meet the highest demands on measuring technology. The high-precision traverse unit delivers excellent measuring accuracy in conjunction with the Nanoscan touch probe for combined roughness and contour measurement.

System features

• Fast measurement technology
• Highly flexible, dynamic measurement
• Excellent measuring accuracy in combination with Nanoscan probe system
• Extensive options for automated, CNC-controlled measurement runs
• Dual operation of two probe systems; a roughness probe system can also be installed on the front of the traverse unit; also suitable for optional rotary module
• Optional motorized tilt unit for precise adjustment of the tilt angle and automatic alignment of the probe to the workpiece level
• Measuring Z column with linear scale at a resolution of 0.1 μm for measurement of vertical distances outside the Z measuring range of the probe; requires probe arm with double probe tip
• Additional motorized Y axis or X-Y axis combination for automatic zenith search, topography measurement and workpiece positioning
• Optional rotational axis for roughness measurement on cylindrical workpieces in circumferential and axial direction

使用 Waveline wavemove 测量系统，可以直接在生产线执行个别、CNC 控制、全自动的粗糙度和轮廓测量。多达 8 个独立的 CNC 轴将工件和测量系统定位在所有必需的测量位置，从而确保精确测量所有必要的特性- 操作完全自动进行，不受任何操作员干预。

特定工件的固定装置使得装卸工件更容易。如果需要，可以自动识别工件并将其分配给质量数据。

这些测量系统特别适合测量曲轴、汽缸盖和缸体。得益于坚固的设计和可选的安全设备，这些测量系统可以在生产环境本身中运行。质量控制环很小，并且测量运行全自动化，让您在质量管理方面居于领先地位。

优点

• 高效：组合的粗糙度和轮廓测量
• 全自动：多轴 CNC 控制可确保自动化程度高
• 坚固：测量系统还适合用于恶劣的生产环境
• 模块化：系统可单独定制，以满足您的特定需求

如果您有特定的需求，我们可以为您提供合适的测量解决方案。我们可以向您提供一个特定的示例，向您展示该解决方案的情况。汽车工业的一个客户委托我们配置一个全自动化的粗糙度和轮廓测量站，以便测量其汽缸盖。

测量站的要求

• 在接近生产区域的测量室进行随机的样品测量
• 通过现有的桥式起重机装载测量站
• 全自动地测量和评估已定义的汽缸盖粗糙度和轮廓特性，包括阀座
• 单个夹紧操作中的测量运行符合指定的周期时间
• 探测系统无需改装
• 得益于自动化的流程，需要员工介入的情况非常少
• 符合安装地点的空间限制
• 安全测量运行的安全设备（适用于操作员和组件）

Wavemove 具有多达 8 个全自动化的可移动轴，可以根据需要适应多个测量点，并在单个测量运行中同时测量粗糙度和轮廓。所有轴的定位具有高度的灵活性，这意味着探头可以触及工件的几乎任一点。

测量站配置符合当地规范

• 根据当地条件调节测量设置：
• 符合最大占地面积和高度要求
• 采用极低的设计，便于在指定的安装高度通过桥式起重机装载测量站
• 可根据测量任务调节花岗岩板的测量布局
• 符合人体工学的布局，带有电脑、控制系统和配件的外壳
• 配有 wavecontrol 操纵杆控制面板，可在看到工件的同时轻松而安全地接近测量位置
• 旋转的工件支架（B 轴）用于全自动化地测量阀座的边缘和半径
• 集成减振的主动位准控制，用于抵消常见的建筑振动
• 8 个 CNC 控制的轴，具有很高的定位精度，可控制任意数量的测量位置
• 集成存储功能，可安全地保留粗糙度和轮廓标准

清晰地分配以便清晰地测量：集成探臂探测功能的粗糙度和轮廓探测系统

• 在自动分配测量任务后，探臂通过 RFID 技术进行探测
• 实现可靠的测量运行，因为意外的操作和碰撞均被避免
• 探测系统无需改装，粗糙度和轮廓探头可同时运行
• 精密的布局可排除粗糙度测量期间的轮廓干扰

• 专门开发了夹紧系统，用于夹紧转接板上安装的汽缸盖
• 将组件安全固定到安装板：只有在 0° 位置下才可以夹紧和松开，因此可防止人员受伤或者机器或零件损坏
• 自动夹紧组件
• 在转接板通过 RFID 代码（例如类型和处理等级）自动检测工件，因此可以将组件清晰地分配给测量程序